99久久免费国产精品黑人,国产欧美国产综合第一区,久久66热在精品国产,国产精品视频一区二区三区四

     隨著(zhù)新型電子元器件正在向片式化、微型化、高頻化、寬頻化、高精度化、集成化和綠色環(huán)保的方向發(fā)展，作為元件之一的MLCC產(chǎn)品也向微型化、高比容化、高溫、高可靠性等的方向發(fā)展。要達到這些性能要求，需要研究的重點(diǎn)之一就是鈦酸鋇(BaTiO3)材料。鈦酸鋇電介質(zhì)材料具有優(yōu)良的介電性能，其介電常數大，介質(zhì)損耗低，介電可調性好，通過(guò)引入微量改性化合物，可以在很寬的范圍內調整材料的介電常數和居里溫度。通過(guò)調整超細鈦酸鋇粉體顆粒的大小，可以制得超薄的電容器陶瓷介質(zhì)。本文主要研究在相同改性添加材料的基礎上，鈦酸鋇顆粒大小對MLCC產(chǎn)品性能的影響。

     實(shí)驗：

     陶瓷粉的制備 

     采用水熱法制備不同粒徑的BaTiO3粉體(純度大于99.9%，Ba與Ti摩爾比為0.998～1.000，晶胞參數c/a大于1.002)，分別按相同比例與改性化合物進(jìn)行混合，得到不同粒徑的瓷粉，不同粒度BaTiO3的各陶瓷粉組成見(jiàn)表1。
     粒徑200nm和400nmBaTiO3粉體的掃描電子顯微鏡(SEM)圖像如圖1所示。

     MLCC樣品制作

     取表1中的各種粒度的瓷粉各5kg分別與有機溶劑(甲苯與無(wú)水乙醇的比為1:1)、黏合劑(PVB樹(shù)脂與瓷粉的比為7:100)，以及其他改性氧化物混合，通過(guò)砂磨機高速研磨分散形成陶瓷漿料，用超平整高精度薄膜流延機制成8μm的介質(zhì)膜，在介質(zhì)膜上用鎳電極漿料印刷內電極，用疊層機往復錯位地疊出250層介質(zhì)膜，經(jīng)等靜壓致密化后切割成陶瓷生坯，將陶瓷生坯在氮氣氛下加熱到450℃，排膠40h后，再用鐘罩爐燒結成陶瓷芯片，將陶瓷芯片倒角拋光、封端、燒端、電鍍后，制作出標稱(chēng)電容量4.7μF、額定電壓100V的1210規格(長(cháng)寬厚為3.2mm×2.5mm×2.5mm)MLCC樣品。

     結果與討論:

     按表1的各組要求制作MLCC產(chǎn)品，因為顆粒大小不同，燒結成瓷的溫度有一定的差異，其他工藝基本相同。一般來(lái)說(shuō)，粉體粒徑越小，其表面活性越大，燒結越容易進(jìn)行，燒結溫度較低。在使用相同改性添加劑(Dopant)情況下，對表1中不同粒徑的BaTiO3粉體分別制定合適的燒結溫度，以保證瓷體致密，并且瓷體晶粒生長(cháng)均勻(如圖2所示)。       不同粒度對常溫下MLCC介電常數(DK)和損耗因數(Df)的影響

     從圖3曲線(xiàn)可以看出，產(chǎn)品介電常數和介電損耗都是隨著(zhù)BaTiO3粒徑增大而增大。水熱法合成BaTiO3粉體的過(guò)程中，晶粒的生長(cháng)是由立方相向四方相轉變，并且四方相含量會(huì )隨著(zhù)陶瓷晶粒尺寸的增大而增加，而四方相具有較高的介電常數，所以粉體粒徑較大時(shí)，MLCC表現出較高的介電常數。
     另一方面，隨著(zhù)晶粒尺寸的減小,單位體積內低介電常數的晶界所占的比例將明顯增加，高介電常數的晶粒芯所占比例將降低。另外，小晶粒尺寸的BaTiO3粉料比表面積更大，與改性劑的接觸更充分更均勻，燒結后，改性劑的滲透使得晶界的占比進(jìn)一步增加。低介電常數的晶界數量增加對產(chǎn)品的介電性能起到“稀釋”的作用。綜上所述，在200nm～500nm尺寸范圍內，BaTiO3粉料粒徑越小，所制備的MLCC產(chǎn)品的介電常數越低，損耗也隨之降低。

     不同粒度對MLCC擊穿電壓和絕緣電阻的影響

     以200V/s的升壓速率測試產(chǎn)品的擊穿電壓，結果如圖4所示。
     在額定電壓下測試產(chǎn)品的絕緣電阻，結果如圖5所示。
     隨著(zhù)晶粒尺寸的減小，絕緣電阻和擊穿電壓都隨之上升。為防止鎳內電極氧化，在產(chǎn)品燒結過(guò)程中需要使用含H2的還原性氣氛，H2含量的高低是影響產(chǎn)品絕緣性能好壞的最主要因素之一。由于表1的四組產(chǎn)品在相同的氣氛下燒結，所以絕緣電阻都處于同一數量級。然而，如前所述，使用晶粒尺寸越小的產(chǎn)品介質(zhì)層中晶界占比越大，晶界的高絕緣特性使得越小的晶粒產(chǎn)品具有更好的絕緣性能和耐壓特性，于是表1的四組產(chǎn)品的絕緣電阻仍然表現出顯著(zhù)差異。

     不同粒度對溫度特性的影響

     圖6是表1各組不同粒徑BaTiO3所制備的MLCC的容量隨溫度變化的曲線(xiàn)。
     可見(jiàn)晶粒尺寸越小，產(chǎn)品的容量變化率—溫度曲線(xiàn)越平坦。一般認為，由于改性劑的存在，燒結后的產(chǎn)品介質(zhì)層中的晶粒是以“芯-殼”的結構形式存在，具有“芯-殼”結構的BaTiO3具有平坦的介溫曲線(xiàn)。研究表明，“芯殼”結構的BaTiO3高溫介電常數由晶粒芯的體積分數決定，而低溫介電峰的強度則由晶粒殼的體積分數決定。起始BaTiO3粉料粒徑將影響晶粒殼的體積比例，在200~500nm范圍內，晶粒尺寸越小，晶粒殼體積占比越大，晶粒芯體積占比越小，使得產(chǎn)品在低溫段和高溫段的容量變化率越小，溫度特性越好。

     不同粒度對MLCC的加速老化(HALT)的影響

     由于MLCC的實(shí)際使用壽命時(shí)間較長(cháng)，壽命可通過(guò)對其電壓和溫度的加速來(lái)進(jìn)行預測。以實(shí)驗中測定的溫度和電壓等數據作為參數運用阿列紐斯公式(Arrhenius Equation)可推算出產(chǎn)品在市場(chǎng)應用環(huán)境下的使用壽命。
     式中：LX為市場(chǎng)應用預估壽命；LH為加速試驗截尾時(shí)間；VX為市場(chǎng)應用電壓；VH為加速試驗溫度；TX為市場(chǎng)應用溫度；TH為加速試驗溫度；K為玻爾茲曼常數；Ea為激活能；n為電壓加速因子。

     根據經(jīng)驗，一般MLCC的Ea取值在1.0~1.5之間，n取值在3~5之間。本次實(shí)驗Ea=1.2eV，n=3.5可認為近似正確。 

     實(shí)踐與數學(xué)理論表明，MLCC的失效分布可近似地用韋伯分布(Weibull Distribution)來(lái)加以描述。圖7是四組樣品的加速壽命實(shí)驗韋伯分布擬合曲線(xiàn)。
     根據擬合數據計算可得到每組樣品的加速試驗截尾時(shí)間，從而推算出樣品的實(shí)際使用壽命，見(jiàn)表2。
     隨著(zhù)所使用的BaTiO3晶粒尺寸的減小，產(chǎn)品的實(shí)際使用壽命顯著(zhù)增加。

     結論:

     BaTiO3粉料粒徑大小對MLCC產(chǎn)品的性能有決定性的影響。隨著(zhù)所使用的粉體粒徑的減小，產(chǎn)品的介電常數減小，損耗也隨之減小。小粒徑的產(chǎn)品具有較好的絕緣和耐電壓特性，并且其溫度特性也有一定的變化。值得注意的是，BaTiO3粉料粒徑會(huì )對產(chǎn)品的使用壽命有較大的影響，小粒徑的BaTiO3產(chǎn)品使用壽命將顯著(zhù)延長(cháng)。因此，在200~500nm尺寸范圍內，使用小粒徑的BaTiO3粉料可顯著(zhù)提升MLCC產(chǎn)品的電性能和可靠性。